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            東莞佰特研磨材料有限公司
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            產(chǎn)品分類(lèi)
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            • 噴砂嘴
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            • 氧化鋯陶瓷砂
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            • 白剛玉砂
            • 棕剛玉
            • 樹(shù)脂砂
            • 尼龍砂
            • 碳化硅砂
            • 玻璃珠砂
            • 石英砂
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            • 塑膠砂
            • 進(jìn)口氧化鋁微粉
            • 噴砂材料
            • 黑剛玉
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            • 拋光材料
            • 噴砂機(jī)配件
            • 不銹鋼砂鋼丸
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            • 東莞佰特鏡面噴射拋光機(jī)說(shuō)明書(shū)
            • 東莞佰特研磨尼龍砂歐盟RoHS第三方檢測(cè)報(bào)告
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            • 佰特研磨陶瓷砂物料技術(shù)說(shuō)明書(shū)—MSDS
            • 深溝球軸承規(guī)格表
            • 東莞市佰特研磨材料有限公司產(chǎn)品宣傳冊(cè)
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            技術(shù)文章
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            白剛玉的粒徑分析方法概述

            白剛玉的粒徑分析方法概述

            以下就是佰特研磨材料公司為大家介紹的有關(guān)白剛玉的粒度檢測(cè)方法對(duì)比的相關(guān)資訊,如果您對(duì)我們的白剛玉產(chǎn)品感興趣,請(qǐng)聯(lián)系我們,網(wǎng)址:journeybetweenlives.com我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。

            一、篩分法。 

            優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于40um的樣品。

            缺點(diǎn):結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

             

            二、顯微鏡(圖像)法。

            優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀,可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(*大和*小粒徑的比值小于10:1)的樣品。

            缺點(diǎn):代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無(wú)法分析小于1um的樣品。

             

            三、沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。

            優(yōu)點(diǎn):操作漸變,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較廣。

            缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),操作比較繁瑣。

             

            四、電阻法。

            優(yōu)點(diǎn):操作漸變可測(cè)顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。

            缺點(diǎn):不適合測(cè)量小于0.1um的顆粒樣品,對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

             

            五、激光法。

            優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍廣,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可進(jìn)行在線(xiàn)測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,儀器造價(jià)較高,分辨力低。

             

            六、電子顯微鏡法。

            優(yōu)點(diǎn):適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析,

            缺點(diǎn):樣品少,代表性差,測(cè)量易受人為因素影響,儀器價(jià)格昂貴。

             

            七、光阻法。

            優(yōu)點(diǎn):測(cè)試便捷快速,可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù),分辨力高。

            缺點(diǎn):不適用粒徑小于1umde樣品,進(jìn)行系統(tǒng)比較講究,僅適合對(duì)塵埃、污染物或已稀釋好的**進(jìn)行測(cè)量,對(duì)一般粉體用的不多。

            八、透氣法。

            優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低。不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,可測(cè)測(cè)性材料粉體。

            缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測(cè)粒度分布;不能測(cè)小于5um細(xì)粉。

             

            九、X射線(xiàn)小角散射法。

            用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。

             

            十、光子相關(guān)譜法(動(dòng)態(tài)光散射法)。

            用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。

             

             

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